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大口徑光學元件吸收缺陷檢測儀


大口徑光學元件吸收缺陷檢測儀

       大口徑光學元件吸收缺陷檢測儀(Model PTM-2000-LA),適用于各類大口徑固體表面及亞表面缺陷的檢測和分析,特別是各類大口徑光學薄膜、光學元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析。本系統是一款非接觸式、高分辨率、全自動化檢測儀器,可以根據用戶具體需求進行紫外、可見或者近紅外波段的精密檢測和分析。

   產品特征

1、高靈敏度;

2、高重復精度;

3、一鍵式操作 ;

4、樣品更換便捷、無需重復校準;

5、可對吸收缺陷進行二維(三維)高分辨率成像;

6、可進行樣品或者選定的缺陷點在激光輻照下的穩定性分析 ;

7、泵浦光源:可以標配,也可以根據用戶需求選配。

   主要技術參數
大口徑光學元件吸收缺陷檢測儀

檢測靈敏度

0.1ppm

檢測波長

355 nm、532 nm、1064 nm或定制波長

泵浦激光根 

據客戶需求配置

空間分辨率

≤10 μm

樣品尺寸

500mmX500mm或客戶定制

注:可以根據客戶需求提供同類特制儀器和相關測試的解決方案。

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