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光學元件三維缺陷檢測儀


光學元件三維缺陷檢測儀

       光學元件三維缺陷檢測儀(Model LS3D-2000),適用于各類光學材料的三維缺陷檢測和分析,特別是光學晶體、光學玻璃的三維缺陷檢測和分析。本系統是一款快速、簡便、高靈敏度檢測儀器。

   產品特征

1、速度快;

2、高靈敏度;

3、一鍵式全自動操作。

   主要技術參數
光學元件三維缺陷檢測儀

型號

LS3D-2000

缺陷檢測靈敏度

10 μm

樣晶尺寸范圍

尺寸可訂制

檢測速度

<2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm

設備重量

300kg

注:可以根據客戶需求提供同類特制儀器和相關測試的解決方案。

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